微焦斑XRF光谱仪FT230 

产品亮点：

FT230的每一个部分都是为了大幅减少分析时间而设计的。

• 自动聚焦减少样品装载时间
• Find My Part™ 自动进行智能识别以设置完整的测量程序
• 屏幕大部分区域用来显示样品视图，提供了极佳的可视度
• 自检诊断程序确保了仪器的状况和稳定性
• 与其他软件的无缝集成使其能够轻松导出数据
• 由于采用了新的用户界面，非专业人员也能直观、方便地使用
• 功能强大，可同时测量四层镀层也可分析基质
• 经久耐用，在充满考验的生产或实验室环境中使用寿命长
• 符合ASTM B568和DIN ISO 3497标准
• 帮助您满足ENIG（IPC-4552B）、ENEPIG（IPC-4556）、浸没锡（IPC-4554）和浸没银（IPC-4553A）的规格要求

 

	FT230 台式 XRF 分析仪
元素范围	铝 (13) - 铀 (92)
探测器	硅漂移探测器 (SDD)
样品台设计	开槽和闭合
XY 样品台设计	电动或固定
XY 样品台行程	250 x 200 mm
电动Z轴行程	205 mm
最大样品尺寸	500 x 400 x 150 mm
直准器数量	4
焦点激光	包含在标准配置内
自动对焦	可选
广角摄像机	可选
距离无关测量	可选
Find My Part™ 智能识别功能	可选
镀层测量	✔️