DM6 M LIBS 

将目视检验和定性化学检验组合在一个工作步骤中，与使用传统SEM/EDS 检验相比， 测定微观结构成分的时间可节省90%。集成激光光谱功能可针对您在显微镜中看到的材料结构提供准确的化学元素图谱。

• 用于目视和化学分析的二合一系统
• 1 秒即可获得化学元素图谱
• 无需样品制备
• 只需一次单击，即可准确检查通过目镜或摄像头观察的物质，从而快速简单的识别和解释。
• 操作员不需要额外的专业性知识

实现快速准确材料分析的二合一系统

徕卡DM6 M LIBS 的集成激光光谱功能可在一秒钟内提供在显微镜图像中所观察微观结构的化学成分。

识别感兴趣的微观结构成分，随后只需单击一下，即可触发LIBS 分析。

• 与典型的电镜方法*相比，节省90% 的时间，而且
• 以可靠的目视和化学检验材料信息为基础，快速做出自信的决策。
• *可根据要求提供证明

 

无需SEM 样品制备

为什么使用徕卡DM6 M LIBS 解决方案进行材料分析能节省90% 的时间？因为这种解决方案：

• 无需样品制备和转移；
• 无需系统调节；
• 无需重新定位感兴趣区域(ROI)。
• 减少工作流程
• 将工作流程精简至只有一个步骤，以结果为重点。

组件清洁度分析

DM6 M LIBS 二合一系统与Cleanliness Expert 分析软件相结合，让您仅使用一台仪器和一个工作流程即可对过滤器上的样品进行目视和化学检验。

这样可以更轻松地找到污染源。

做出自信的决策

通过快速获取颗粒成分和结构的数据，您将得到在分析过程中更加迅速地做出自信决策的优势。

微观结构成分的评估

徕卡DM6 M LIBS 二合一解决方案可助您执行物相的结构和元素/化学分析，例如矿石、合金、陶瓷等。

无需进行样品制备，也无需在2 个或更多设备之间进行转移。整个分析工作流程全部在一台仪器上完成。

减少占用人力资源的样品制备

减少占用人力资源的样品制备和成本高昂的SEM/EDS 分析，从而节省时间和资金。

 

材料的深度剖面图和层次分析

LIBS 的消融原理可被运用于材料的微型打孔。

微型打孔可应用于诸如：

• 深度剖面
• 层次分析
• 表面清洁

在测定一种材料的成分是否随着深入该材料其中的深度而改变时，深度剖面有用。

层次分析可用于查找一种材料中每一层的成分。比如多层镀膜或喷漆的金属，都属于层状材料。

利用表面清洁可以去除氧化物和污染。

 

LIBS：您的化学分析研究利器

DM6 M LIBS 解决方案运用激光诱导击穿光谱(LIBS)使定性化学分析成为可能。

单击即可触发分析，激光将穿透样品上的瞄准点。一个等离子体将会产生，然后分解。产生的特征光谱显示材料中的元素的分布图谱。

软件将图谱与已知的元素和化合物数据集进行对比，从而确定微观结构的成分。数据集可以随着用户获得的具体材料结果得到扩充。