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Scios 双束电子显微镜 

发布时间:2017/06/13
Scios 双束电子显微镜

  Scios是一款超高分辨率DualBeam分析系统,能为包括磁性材料在内的众多样本提供二维和三维性能。Scios的功能可提高通量、精度与易用性,非常适于工业研究环境中的纳米量级研究与分析。
  检测技术是Scios的核心技术。透镜内Trinity检测技术能够同时收集所有信号,既节省了时间还能形成鲜明的对比度,从而有助于采集尽可能多的数据。透镜下同心后散射检测器能提效率,使您可以根据信号的角分布选择信号,从而轻松分离材料和形态对比度,即使着陆能量为20eV也是如此。

 

Scios的材料科学应用
  SciosDualBeam特别适合用于金属、复合物和涂层等众多材料,能够:
  •  执行高分辨率、高对比度成像,对磁性样本也不例外
  •  使用Trinity检测套件同步检测材料、形态和边缘对比度,从而分析材料的全部属性
  •  借助漂移抑制光刻,不用制备样本即可制作具有位置特异性的切片,甚至可以对非导电材料进行操作
  •  生成三维数据立方体确定金属中夹杂物的大小和分布,或对裂纹各个方向的应力和应变进行分析
  •  搭配EasyLift可快速可靠地制备高质量样本,而且只电子束能量即可获得高质量的S/TEM结果
  •  针对DealBeam TM 常见应用提供“用户指南”和逐步工作流,使得任何经验水平的操作员都能上手